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bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200

簡要描述:bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性,可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。

  • 所在城市:國外
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新日期:2024-04-19
  • 訪  問  量:2357
詳細介紹
品牌Bruker/布魯克價格區(qū)間100萬-200萬
產品種類接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別進口
應用領域化工,電子,綜合重量67kg
垂直分辨率<0.01 nm樣品高度≤100 mm (4 in.)
XY樣品臺150mmZ軸聚焦自動
臺階高度準確性<0.75%放大器0.55X,,075X,1X,1.5X,2X
尺寸480mmx604mmx754mm

bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性,可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。

bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200還配有業(yè)界先進的操作和分析軟Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能,可訪問多種預編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半導體,眼科,醫(yī)療設備,MEMS和摩擦學等領域的測量分析。

優(yōu)質的測量與分析功能

·易于使用的界面,可快速準確地獲得結果

·自動化功能用于日常測量和分析

·廣泛的濾鏡和分析工具選項,用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析

·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告

先進計量設備

·基于超過四十年的專有WLI創(chuàng)新,ContourX-200光學輪廓儀展現出定量計量所需的低噪聲、高速、高精度的準確結果。

·通過使用多個鏡頭和集成的特征識別功能,設備可以在各種視野內以亞納米垂直分辨率跟蹤特征,可用于各種不同行業(yè)中的質量控制和過程監(jiān)控應用。

高性能表面計量

·放大倍率無關的業(yè)界好Z軸分辨率

·大尺寸的標準視場

·穩(wěn)定集成防震設計

bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200


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